工作原理

HL200SDSW采用旋转载物台与多镜头协同成像技术：样品固定于电动旋转载物台，以0.1°-360°可调角度自动旋转，同时配备的4组高清摄像头从不同方位同步采集图像。系统通过特征点匹配与深度学习算法，将多视角图像拼接为三维点云模型，并生成分辨率达0.1μm的表面形貌图。例如，检测金属零件表面划痕时，设备可在5分钟内完成360°扫描，自动识别0.02mm宽的缺陷，并输出三维形貌图与深度剖面曲线。

应用范围

该设备覆盖多行业精密检测需求：在半导体制造中，可检测晶圆边缘崩边、芯片封装翘曲，精度达亚微米级；在3C电子领域，支持手机中框、摄像头模组的全景形貌分析，辅助优化装配工艺；在生物医学领域，适用于组织工程支架、细胞微载体的三维结构观察，为再生医学研究提供数据支持；在航空航天领域，还能分析涡轮叶片涂层厚度均匀性，确保高温部件可靠性。

技术参数

HL200SDSW配备电动旋转载物台，旋转速度0.1°-10°/s可调，定位精度±0.005°；4组500万像素CMOS摄像头，帧率30fps，支持明场、暗场、偏光等多种照明模式；三维重建速度≤5分钟/360°，点云密度达5000点/mm²；设备尺寸600×500×700mm，净重45kg，适配220V/50Hz电源；软件支持STL、OBJ等通用3D格式导出，兼容Geomagic、PolyWorks等第三方分析软件。

产品特点

全视角覆盖：360°无死角扫描消除传统显微镜的视角盲区，单次检测即可获取样品完整形貌；

高精度重建：亚微米级分辨率与纳米级重复定位精度，满足半导体、精密加工等行业的严苛要求；

智能高效：一键式操作自动完成扫描、拼接与分析，较传统接触式测量效率提升80%；

多功能集成：支持2D/3D切换观察、动态形貌追踪与虚拟截面切割，适配不同检测场景需求。