工作原理

AL-CT1303-CL基于锥束CT扫描技术，通过微焦点X射线源发射锥形X射线束穿透被测物体，数字平板探测器同步采集投影数据。设备采用三维重建算法，将多层断层图像转换为高分辨率三维体积数据，支持2D切片观察与3D立体渲染双模式。其核心优势在于非接触式测量，避免传统触针法对软质材料的损伤，尤其适用于精密电子元件、复合材料等微结构分析。

应用范围

设备广泛应用于航空航天、汽车制造、生物医学及新材料研发等领域：

精密制造：检测涡轮叶片气孔、焊接接头裂纹、3D打印件内部缺陷；

材料分析：分析金属基复合材料孔隙率、陶瓷烧结致密度、纤维增强材料取向分布；

逆向工程：快速获取复杂零件三维模型，支持CAD数据对比与尺寸偏差分析；

科研教学：辅助地质岩心研究、考古文物内部结构解析及材料力学性能验证。

技术参数

管电压：20kV-90kV可调，适应不同材料检测需求；

焦点尺寸：≤5μm，实现微米级分辨率；

密度分辨率：0.3%-0.5%，精准区分材料密度差异；

扫描速度：单层投影≤143.5ms，30秒内完成典型样品扫描；

成像尺寸：支持最大Φ200mm×300mm样品检测，兼容小至微米级电子芯片；

软件功能：内置孔隙分析、壁厚测量、缺陷统计及3D打印逆向模块，支持DXF/IGES格式数据导出。

产品特点

高精度与灵活性：锥束扫描技术结合微焦点X射线源，确保图像无几何失真，适合异形件检测；

智能化操作：一键式自动校准、智能缺陷识别及三维测量工具，降低操作门槛；

多功能扩展：可选配激光测头与接触式探针，实现表面形貌与内部缺陷同步测量；

紧凑设计：桌面式结构节省空间，配备铅防护房与安全联锁装置，符合实验室安全规范。

AL-CT1303-CL以“精准、高效、安全”为核心价值，为工业质量控制与科研创新提供可靠的技术支撑。