工作原理

JX-71TR基于经典光学显微成像原理，通过物镜与目镜的协同放大实现样品观测。其核心在于0.67X-4.5X连续变倍物镜组与高眼点大视野平场目镜的组合，物镜将样品反射光线聚焦形成倒立实像，目镜进一步放大该实像并校正像差，最终呈现清晰、平坦的显微图像。设备支持明场、暗场及偏光观察模式，通过内置偏光镜组件可实现各向异性金属晶粒的定向分析，例如变形铝合金的择优取向测定或未刻蚀相的快速鉴别。

应用范围

该设备广泛应用于电子、机械、材料科学及教育领域：

金属材料分析：检测钢铁、铝合金等材料的晶粒度、夹杂物及热处理缺陷；

精密制造检测：适用于PCB线路板、IC芯片封装缺陷及精密模具表面质量的筛查；

科研与教学：支持材料科学实验中的组织演变观察及显微硬度试验的辅助定位。

技术参数

光学系统：0.67X-4.5X连续变倍物镜，工作距离110mm；PL10X/22mm、PL15X/16mm、PL20X/12mm高眼点目镜可选。

载物台：双向200mm移动行程，支持352mm×256mm超大型样品观测。

光源与调焦：6V20W卤素灯提供均匀照明，粗微动调焦范围25mm，微调格值0.002mm。

扩展接口：三目镜筒配备C型接口，可适配0.35X-1X摄像接筒及专业图像分析软件，实现数字化成像与数据存储。

产品特点

高兼容性：模块化设计支持快速切换物镜与目镜，适配不同放大倍数需求；

操作安全：升降调焦系统带有限位装置，避免物镜与样品碰撞，适合大批量检测；

成像优化：偏光装置与滤色片组合可增强组织衬度，例如通过“黑十字”现象清晰呈现石墨球取向；

智能扩展：可选配长工作距离物镜及数码摄像头，升级为数字显微分析系统，满足自动化检测趋势。

JX-71TR以“精准、灵活、安全”为核心优势，为金属材料检测与精密制造提供了高效解决方案，是实验室与生产线的理想工具。