工作原理

DHF84采用X射线荧光（XRF）技术：内置微型X射线管发射高能光子，激发样品表面元素产生特征X射线，高分辨率半导体探测器（SDD）捕捉能谱信号，通过内置算法分析能谱峰位与强度，定量计算SiO₂、Al₂O₃、Fe₂O₃、CaO等矿物元素的含量。设备支持无标样定量（基本参数法）与有标样校准，适应不同检测需求。

应用范围

适用于地质勘探中的岩石矿物成分分析、矿业企业原料（如石英砂、硅石）的SiO₂含量筛查、陶瓷行业坯料配方验证、玻璃制造原料（如硅砂）的杂质检测及教学实验室矿物标本研究；支持质检部门矿物制品合规性检测（如陶瓷白度控制）、生产线原料分拣及资源回收利用（如尾矿再选），满足多场景的矿物成分分析需求。

产品技术参数

检测元素：Si、Al、Fe、Ca、K、Na等10余种（覆盖常见矿物元素）；检测范围：0.1%-99.9%（依元素而定）；检测时间：5-30秒/样品（无需制样）；精度：±0.5%（主量元素SiO₂），±0.1%（微量元素）；分辨率：1ppm（痕量元素）；激发源：微型X射线管（电压50kV，电流0-200μA）；探测器：硅漂移探测器（SDD）；显示方式：5英寸彩色触控屏；存储功能：内置8GB存储，可记录10000组数据；接口：USB/蓝牙（支持数据导出与打印）；电源：内置锂电池（续航8小时）/AC 220V±10%；工作环境：-10-50℃，湿度≤95%RH；主机尺寸：240×180×80mm；重量：约3.5kg。

产品特点

快速无损检测：5-30秒完成多元素分析，无需制样或破坏样品；

多矿物适配：支持SiO₂为主量元素的矿物（如石英、长石、黏土）成分定量；

智能算法：内置基本参数法（FP）与标准曲线库，自动校准基体效应；

便携设计：手持式结构，重量仅3.5kg，支持现场移动检测；

用户友好：彩色触控屏导航，中文菜单与一键式操作，适配不同用户群体；

安全防护：X射线管配备多重安全联锁，符合GB 18871《电离辐射防护规定》；

合规性：符合ASTM E1335、GB/T 17359标准，提供校准证书与CE认证。

DHF84以高效、精准、安全的矿物成分分析能力，为用户提供科学的资源评估与质量控制方案，助力矿业开发提质增效与新材料研发。