工作原理

VL-50S采用高精度线性导轨与低摩擦传动系统，测头以极轻的力（最低0.1mN）接触被测工件表面，避免因压力导致软质材料变形或微小结构损坏。内置高分辨率光栅传感器实时捕捉测头位移，分辨率达0.01μm，配合智能算法自动补偿环境振动与温度漂移，确保测量数据精准稳定。设备支持垂直或水平测量模式，适配不同工件形态需求。

应用范围

该测高仪适用于精密零部件的尺寸检测，如薄膜厚度、光纤端面、微型齿轮、半导体封装件等；也可用于软质材料（如橡胶、塑料、生物组织）的厚度测量，以及科研实验中微小位移的动态监测，满足电子制造、汽车零部件、航空航天等行业对高精度、无损测量的严苛要求。

产品技术参数

测量范围：0-50mm

分辨率：0.01μm

最大允许误差：±(0.3+L/200)μm（L为测量长度，单位：mm）

测量力：0.1mN-1N（可调）

测头类型：红宝石球形测头（直径0.5mm/1mm可选）

数据接口：USB、RS-232，支持SPC统计分析软件

产品特点

超低测量力设计：最小0.1mN测力，避免软质材料变形，实现无损检测。

高刚性稳定结构：采用花岗岩基座与空气轴承导轨，抗振动干扰能力强，长期精度稳定。

智能环境补偿：内置温度传感器与振动滤波算法，自动修正环境因素对测量结果的影响。

模块化测头系统：支持快速更换不同直径测头，适配多样化测量任务。

人性化操作界面：彩色触摸屏支持中英文切换，一键完成校准、测量与数据导出流程。