工作原理

Vanta Element基于能量色散型X射线荧光光谱技术实现元素分析：

X射线激发与特征荧光产生：内置微型X光管发射高能X射线（50kV电压加速电子轰击钨靶），照射样品表面；样品中原子内层电子被激发后，外层电子跃迁填补空位，释放出具有元素特征能量的次级X射线（荧光）。

信号采集与能谱解析：硅漂移探测器（SDD）将荧光光子转换为电脉冲信号，其幅度与光子能量成正比；多道分析器（MCA）对电脉冲进行分类计数，生成能量-强度谱图；微处理器通过解谱算法（如FP法、经验系数法）计算各元素含量（重量百分比）。

智能校正与结果输出：仪器内置标准样品库（覆盖200+种合金、矿石基体），自动匹配基体效应校正模型；结合GPS定位与摄像头功能，实时记录样品位置及图像，分析结果通过5英寸触摸屏显示（支持中英文切换），并可导出至U盘或云端。

应用范围

金属回收与分拣：快速鉴别废旧金属（如不锈钢、铝合金、铜合金）的牌号（如304/316不锈钢），区分镀层与基材，提升回收价值；检测贵金属（Au、Ag、Pt）含量，防止掺假。

地质勘探与采矿：现场分析岩芯、土壤样品中的金属元素（如Fe、Cu、Pb、Zn），圈定矿化异常区；监测选矿流程中矿石品位变化，优化开采方案。

工业质量控制：检测合金材料（如航空钛合金、汽车钢板）的成分是否符合标准（如ASTM/GB）；筛查电子产品中的有害物质（RoHS指令限定的Pb、Cd、Hg等），确保合规性。

考古与艺术品鉴定：非破坏性分析文物（如青铜器、陶瓷釉）的金属成分，推断制作年代与工艺；鉴别珠宝玉石（如翡翠、钻石）的真伪及优化处理痕迹。

技术参数

元素检测范围：Mg（12）-U（92）

检测限：10-500ppm（依元素与基体而定）

分析时间：5-10秒（快速模式）/30秒（高精度模式）

X光管功率：50kV/200μA（可调）

探测器类型：硅漂移探测器（SDD，5mm²有效面积）

产品特点

高性能与便携性平衡：采用高功率微型X光管（寿命≥10,000小时）与低功耗设计，单次充电可连续工作8小时；1.4kg超轻机身与人体工学手柄，支持单手长时间操作。

抗干扰与耐用性：IP65防护等级可防尘防水，适应雨天或沙尘环境；内置防辐射铅屏蔽层与安全联锁装置（开盖自动断电），确保操作人员安全；通过1.2米跌落测试（MIL-STD-810G标准），耐受野外颠簸。

智能化软件功能：预装Vanta分析软件，支持一键自动校准、多基体模式切换（如合金、土壤、矿石）；内置Wi-Fi/蓝牙模块，可连接打印机或移动终端实时共享数据；提供云端数据库对接服务，实现分析结果远程追溯。

低维护成本：无耗材设计（无需更换气体或滤膜），日常仅需清洁样品窗；模块化结构便于快速更换X光管或探测器（用户可自行操作），缩短停机时间。