工作原理

QLX1采用X射线荧光光谱（XRF）技术，通过微型X射线管激发样品表面，使金属原子内层电子跃迁产生特征X射线荧光。高分辨率硅漂移探测器（SDD）捕捉这些荧光信号，结合智能算法解析元素种类及含量。仪器内置多基体分析模型，可自动匹配钢铁、铜合金、铝合金等不同材料的校准曲线，实现ppm级微量元素检测与合金牌号快速匹配。

应用范围

该设备适用于金属全元素分析场景，包括：废旧金属回收中的成分鉴定与分拣、制造业原材料入厂检测（如不锈钢304/316牌号区分）、航空航天钛合金成分验证、电力设备镀层厚度测量，以及地质勘探中金属矿石品位评估。其非破坏性检测特性，尤其适合文物修复、珠宝鉴定等珍贵样品分析。

技术参数

激发源：微型X射线管（40kV/50μA，Ag靶材）

探测器：硅漂移探测器（SDD），分辨率≤145eV@Mn Kα

检测元素范围：钛（Ti）至铀（U），共30余种元素

检测下限：0.01%-0.1%（依元素而定）

分析时间：5-30秒（可调）

防护等级：IP54（防尘防溅水）

尺寸重量：280×220×80mm，2.8kg

电源：锂电池（续航8小时）/AC适配器

产品特点

极速精准检测：5秒内完成合金牌号鉴定，30秒输出全元素成分报告，重复性误差＜0.5%。

智能操作系统：7英寸触控屏搭载Android系统，支持语音导航、多语言切换及远程协助功能。

无线数据传输：内置Wi-Fi/蓝牙模块，可实时上传检测数据至云端或手机APP，生成电子报告并打印。

军工级防护设计：镁铝合金机身抗冲击，防滑橡胶套与三防涂层适应-20℃至50℃极端环境，满足野外作业需求。