高精度光学影像测量机
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高精度光学影像测量机
来源:苏州小数岛精密技术有限公司
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简介: 三丰Mitutoyo QV-Active是新一代智能型高精度光学影像测量机,由苏州小数岛精密技术有限公司代理引进。该设备融合多光谱共聚焦成像技术与AI边缘检测算法,可实现微米级尺寸测量、形位公差分析及三维轮廓重构,适用于电子、半导体、精密机械等行业的自动化质检需求,是“高速、高精度、全流程影像测量”的标杆解决方案。
产品详细

三丰Mitutoyo


工作原理

QV-Active基于多光谱光学投影与智能图像处理技术:


多光谱照明系统:采用LED环形光源与同轴背光组合,支持明场/暗场/斜射/透射等多模式切换,自动优化不同材质(金属/塑料/玻璃)的成像对比度。

共聚焦层析成像:通过电动调焦模块驱动镜头组轴向移动,同步采集多焦平面图像,结合深度学习算法提取清晰轮廓,消除传统影像仪的离焦误差。

AI边缘检测:内置卷积神经网络(CNN)实时识别图像中的圆、直线、弧等特征,测量精度达±0.5μm(20×物镜),重复性≤0.3μm。

运动控制闭环:搭载光栅尺与直线电机驱动系统,实现X/Y/Z三轴纳米级定位(分辨率0.001μm),运动速度达300mm/s。


应用范围


电子制造:测量PCB板焊盘间距、IC引脚共面度及连接器端子高度,支持SMT产线100%在线检测。

半导体封装:检测晶圆划片槽宽度、BGA球径及键合线弧高,验证芯片封装工艺精度。

精密机械:测量齿轮模数、螺纹螺距及轴承滚道圆度,支持汽车零部件CPK统计分析。

医疗器械:检测导管壁厚、支架丝径及植入物表面粗糙度,满足ISO 13485医疗认证要求。

3C行业:测量手机中框倒角尺寸、玻璃盖板弧高及摄像头模组同心度,适配柔性屏与折叠屏检测需求。


技术参数


测量范围:X/Y轴 300mm×200mm(可选配600mm×400mm);Z轴 200mm

物镜配置:0.5×/1×/2×/5×/10×/20×(可选配自动变倍镜头)

测量精度:±(1.5+L/300)μm(L为测量长度,单位mm)

重复性:≤0.3μm(同一位置5次测量)

光源类型:LED环形光(8段分区控制)+同轴背光+透射光

数据接口:GigE Vision/USB 3.0,兼容Mitutoyo U-Wave无线传输

软件功能:支持GD&T形位公差、SPC统计过程控制及CAD比对测量


产品特点


全流程自动化:软件集成机器视觉引导功能,可自动识别工件类型、调用测量程序并生成报告,减少人工干预。

超景深成像:通过共聚焦技术实现20mm景深范围,无需反复调焦即可检测复杂曲面(如涡轮叶片)。

多传感器融合:可选配激光位移传感器或接触式测头,同步获取高度与轮廓数据,适配混合材质测量场景。

智能环境补偿:内置温度传感器与振动滤波算法,自动修正热膨胀与机械振动对测量结果的影响。

模块化扩展:支持自动化上下料系统、旋转载物台及多机联网,轻松集成至智能工厂产线。

用户友好界面:15英寸触控屏搭载一键式测量向导,支持中/英/日/德等多语言操作

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标签:高精度光学影像测量机,物理检测设备
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