工作原理

该设备基于光学放大与成像技术，通过卤素灯或LED光源发射光线，经聚光镜聚焦后垂直照射样品表面。反射光线通过无限远色差校正物镜形成放大实像，再经大视野目镜二次放大，最终在观察者视网膜或计算机显示器上呈现清晰图像。其核心优势在于配备高分辨率CCD摄像头，可实时捕捉显微图像并传输至计算机，通过专业软件实现晶粒尺寸测量、相比例计算、夹杂物评级等定量分析，支持ASTM E45、ISO 643等国际标准。

应用范围

设备适用于电子、冶金、化工、仪器仪表等行业，可观察金属陶瓷、印刷电路板、液晶板、镀涂层等透明/半透明/不透明材料。在金属学领域，可分析钢铁晶粒度、非金属夹杂物分布、热处理组织变化；在半导体行业，可检测晶圆表面缺陷、薄膜均匀性；在生物医学领域，可观察人工关节表面形貌。此外，还支持偏光观察、暗场成像等特殊模式，满足矿物学、精密工程学等多学科研究需求。

技术参数

设备配备5×-100×无限远平场消色差物镜，目镜视野达22mm，分辨率达0.1μm。载物台移动范围75mm×50mm，精度0.1μm，支持X/Y轴精密调节。照明系统采用6V30W卤素灯，亮度可调，内置黄、绿、蓝滤色片。计算机接口支持500万像素以上CCD摄像头，兼容Windows 7/10系统，软件库包含700余个标准模块，覆盖晶粒度、脱碳层、球化评级等150类检测需求。

产品特点

智能化操作：三目镜筒支持目视观察与计算机成像同步切换，软件可自动识别晶界、相界面，生成检测报告；

高精度成像：无限远光学系统与平场物镜组合，消除像差，确保图像边缘清晰度与中心一致；

多功能集成：支持明场、偏光、暗场多种观察模式，无需更换设备即可完成复杂材料分析；

模块化设计：软件标准库终身免费升级，可根据用户需求定制企业标准模块，适应新材料检测需求。