工作原理

XL5 Plus采用5W微型X光管激发样品表面，高能X射线使原子内层电子脱离，外层电子跃迁时释放特征荧光X射线。设备通过超大面积硅漂移探测器捕捉这些特征谱线，结合动态电流调节技术优化信号灵敏度，实现轻元素（如Mg、Al）的精准检测。其智能基本参数算法可自动修正基质效应，确保测试结果与实验室设备高度一致。

应用范围

覆盖多行业核心检测需求：

合金鉴别：快速识别不锈钢、镍基合金、钛合金等20余种牌号，防止混料事故；

废旧回收：一键分拣铜、铝、锌等有色金属，提升回收效率与价值；

质量控制：检测原材料及半成品中Cr、Ni、Mo等关键元素含量，确保符合ASTM、GB等标准；

涂层分析：非破坏性测量金属基底上最多4层涂层的厚度及成分，如汽车转化膜中的Zr、Ti元素。

技术参数

元素范围：Mg（12）至U（92），涵盖轻元素至重金属；

检测限：低至10ppm，重复性优于0.1%；

测试速度：合金牌号鉴别1-2秒，全元素分析≤5秒；

设备规格：重量1.3kg，尺寸24.23cm×20.8cm×6.78cm，配备热插拔电池；

防护等级：IP54防尘防水，适应-20℃至50℃环境。

产品特点

便携高效：人体工学设计，可检测狭窄区域焊缝，减少操作疲劳；

智能交互：彩色触摸屏支持戴手套操作，双摄像头精准定位测点；

数据互联：WiFi/蓝牙实时传输数据至PC，兼容NitonConnect软件生成报告；

安全可靠：三重防护（硬件连锁、软件报警、无样品空测关管）确保辐射安全。