工作原理
DSF-R2基于X射线荧光光谱技术,通过高压X光管激发样品表面原子,使外层电子跃迁至高能态后释放特征X射线荧光。仪器搭载高分辨率SDD硅漂移探测器,精准捕捉荧光能量并转化为电信号,结合数字多道分析系统实现多元素同步定量分析。其智能真空系统可自动切换空气/真空模式,有效降低轻元素(如Na、Mg)的检测干扰,同时配备8种可调准直器与4种滤光片,适配不同样品形态与检测需求。
应用范围
覆盖多行业元素分析场景:金属加工领域支持合金牌号鉴定(如不锈钢、铝合金)及有害元素(Pb、Cd)筛查;地质勘探中可快速分析岩石、土壤中的主量及微量元素;环保行业用于电子废弃物、污染土壤的重金属(Cr、Hg)检测;工业材料领域可测定陶瓷、玻璃的成分比例及涂层厚度。设备支持固体、粉末、液体等多种样品形态,满足实验室与现场检测双重需求。
技术参数
元素范围:硫(S)至铀(U),覆盖25种以上元素
检测限:低至2ppm,轻元素检出能力达0.005μm
分辨率:SDD探测器实现125eV能量分辨率
功率与稳定性:50kV高压发生器,管流≤1000μA,支持24小时连续稳定运行
智能配置:内置高清工业摄像头、2D全自动移动样品台,支持图像联动多点测试
产品特点
高效精准:1秒内完成单点检测,重复性误差≤0.5%,数据可靠性达实验室级标准。
无损便捷:非破坏性分析避免样品损耗,200目粉末或块状样品直接测试,减少制样成本。
安全智能:光闸联动安全装置与三重防护模式,确保操作人员辐射安全;预约预热功能支持远程启动,提升检测效率。
扩展性强:开放API接口兼容第三方软件,支持定制化分析模型开发,适配不同行业标准(如RoHS、ELV指令)。