工作原理

该设备采用双闭环伺服控制系统，通过日本松下高性能伺服电机驱动X/Y/Z三轴精密运动平台，配合0.0005mm分辨率的光栅尺实时反馈位置数据，确保测量精度。光学系统搭载美国TEO高分辨率彩色CCD相机与NAV高清连续变倍镜头（0.7-4.5X），结合多区程序LED冷光源（表面光+透射光），可清晰捕捉工件轮廓特征。软件系统通过亚像素边缘检测算法提取图像数据，结合三维坐标变换模型，自动计算几何尺寸、形位公差等参数，并支持SPC统计分析。

应用范围

覆盖多行业精密检测场景：在电子制造领域，可测量PCB板孔径、芯片引脚间距；汽车行业用于检测发动机叶片厚度、齿轮模数；航空航天领域支持复合材料曲面轮廓分析；科研机构则利用其测量微纳结构、生物样本等。设备兼容CAD图纸导入，支持逆向工程建模，助力产品快速迭代。

技术参数

测量范围：300×200×250mm（X/Y/Z轴）

测量精度：≤2.5μm+L/200（L为测量长度，单位：mm）

重复精度：≤2μm

光学系统：彩色CCD相机，分辨率800TVL；自动变倍镜头，放大倍率30-225X

光源配置：8区程序LED冷光源（表面光+透射光），亮度独立可调

运动控制：日本松下伺服电机，台湾上银精密线性导轨与滚珠螺杆

产品特点

高精度与稳定性：00级济南青大理石基座与立柱，配合双闭环控制系统，确保长期使用不变形。

智能化操作：全自动测量软件支持一键式编程，可自动完成拼图、边缘检测、尺寸计算等流程，测量效率提升50%。

多功能扩展：可选配Renishaw接触式探头，实现三维尺寸测量；支持亚像素测量功能，对操作人员无专业要求。

安全防护：全封闭防护罩与急停按钮双重保障，符合CE安全标准。