投影立式光学计
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投影立式光学计
来源:上海光学仪器六厂
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简介: 上海光学仪器六厂投影立式光学计JD3是一款经典型立式投影测量仪器,基于光学投影原理设计,用于快速测定工件尺寸、形位误差及轮廓形状。该设备以操作直观、测量精准著称,广泛应用于机械制造、计量检测及工业质检领域,为用户提供基础尺寸分析解决方案。
产品详细

SOIF


工作原理

JD3采用光学投影与测微装置结合,光源通过聚光镜均匀照射工件,光线经物镜放大后形成实像,再通过投影屏或测微器进一步放大。用户通过调焦手轮调节清晰度,使投影屏上的工件轮廓与标准刻线重合,结合测微器分度值读取尺寸数据,实现非接触式快速测量。设备支持直角坐标长度、角度及圆直径等多种参数测量。



应用范围

适用于机械制造领域(如轴类零件直径检测、齿轮齿厚测量)、计量检测(如符合GB/T 21389-2008标准的尺寸校验)、工业质检(如精密冲压件形位误差控制)及教学实验(如基础测量技术培训)。广泛服务于工厂质检部门、计量所及职业院校,满足基础尺寸分析需求。


产品技术参数


测量参数:长度(0-300mm)、角度(0°-360°)、圆直径/半径

精度等级:符合JJG 435-2018标准,示值误差±(3+L/100)μm(L为被测长度,单位mm)

光学系统:物镜2.5×(焦距43.40mm)、10×(焦距17.13mm);投影屏直径Φ300mm(带米字刻线)

测微装置:分度值0.001mm,测量范围0-5mm

光源:6V15W卤素灯(亮度可调,寿命≥2000小时)

仪器尺寸:500×400×800mm,净重65kg,电源AC 220V/50Hz(功耗≤100W)


产品特点


经典投影设计:通过投影屏直观显示工件轮廓,结合米字刻线手动对齐,操作简单,适配传统质检需求。

高精度测微:测微器分度值0.001mm,确保微米级测量精度,适配精密零件检测。

灵活观察:投影屏可旋转360°,适配不同角度观察;物镜转换器支持快速切换放大倍数。

耐用结构:铸铁机身抗振动,卤素灯光源寿命长,适应工业环境长期使用。

低成本维护:光源可拆卸更换,测微装置免校准,维护成本低。

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标签:投影立式光学计,物理检测设备
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