工作原理
MMI-50R通过光源发出光线,经聚光镜聚焦至样品表面,反射光携带样品组织信息后,由物镜收集并传递至棱镜系统。无限远光学设计确保光路可灵活扩展附件(如偏光片、滤光片),最终光线通过目镜或摄像头形成放大图像。设备支持明场、暗场、偏光等多种观察模式,可适应不同材质的透射与反射需求。
应用范围
广泛适用于冶金、机械制造、电子元件、地质勘探等领域,可完成金属晶粒度评级、非金属夹杂物分析、涂层厚度测量、相组成鉴定等任务,同时支持高校材料教学与科研机构的基础研究,尤其适合需要频繁更换样品或观察大尺寸试样的场景。
产品技术参数
放大倍数:50X-1000X(连续可调,标配5X/10X/20X/50X物镜)
物镜类型:平场消色差物镜(无限远校正)
载物台:Φ120mm旋转载物台,移动范围50×50mm,带刻度定位
光源:LED冷光源(亮度可调,寿命≥50000小时)
摄像头:可选配500万像素CMOS,支持USB3.0传输
观察方式:双目目镜(视野数20mm)或三目分光(目镜/摄像头同步)
调焦机构:粗微同轴调焦,微调精度0.001mm
尺寸:450mm×380mm×600mm
重量:25kg
产品特点
倒置结构设计,样品观察面朝下,适配大型或不规则试样
无限远光学系统,支持偏光、暗场等附件扩展,满足多场景需求
高精度电动载物台(可选),支持X/Y轴精准定位与程序控制
智能光源控制系统,自动调节亮度避免样品过热或光损
配套专业图像分析软件,支持自动测量、报告生成与数据存储
人体工学设计,可调目镜间距与观察角度,降低长时间操作疲劳