光切法显微镜
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光切法显微镜
来源:上海光学仪器六厂
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简介: 上海光学仪器六厂光切法显微镜9J是一款专为表面粗糙度测量设计的高精度光学仪器。该设备基于光切原理,结合非接触式光学投影技术,可快速测定机械零件、光学元件等表面的粗糙度参数(如Ra、Rz),适用于机械制造、计量检测、科研教学及工业质检等领域,为用户提供可靠、便捷的表面形貌分析解决方案。
产品详细

SOIF


工作原理

9J基于光切法原理,通过光源发射平行光束,经物镜聚焦后形成狭窄光带,垂直照射被测表面。当光带切割表面微观轮廓时,其反射光线经物镜成像于目镜分划板上,形成与表面粗糙度成比例的放大图像。用户通过目镜观察光带变形,结合标尺或测微器读取粗糙度数值,实现非接触式快速测量。



应用范围

适用于机械制造领域(如零件加工后表面质量检测、模具形貌分析)、计量检测(如符合GB/T 3505-2009标准的粗糙度校验)、科研教学(如材料表面特性研究)及工业质检(如精密轴承、光学元件表面粗糙度控制)。广泛服务于工厂质检部门、科研院所及高校实验室,助力质量控制与工艺优化。



产品技术参数


测量参数:Ra(轮廓算术平均偏差)、Rz(最大高度)

测量范围:Ra 0.025-6.3μm,Rz 0.1-25μm

物镜配置:10×(工作距离10mm)、20×(工作距离5mm)

目镜:10×(带标尺,分度值0.01mm)

光源:6V15W卤素灯(亮度可调,寿命≥2000小时)

测量方式:非接触式光切投影

数据输出:目视读数(可选配数码接口)

仪器尺寸:280×220×380mm,净重12kg


产品特点


非接触式测量:避免接触式测量对样本的损伤,适配精密零件检测。

高精度光切投影:光带宽度≤0.05mm,确保微观轮廓清晰成像,测量精度达纳米级。

双物镜配置:10×与20×物镜可选,适配不同粗糙度范围的检测需求。

人性化操作:目镜带标尺,可直接读取Ra/Rz值;光源亮度可调,适配不同样本反光特性。

耐用与稳定:金属机身结构稳固,卤素灯光源寿命长,适应实验室与工业环境。

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标签:光切法显微镜,物理检测设备
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