工作原理

AL-Y3500采用X射线管（如铑靶或银靶）激发样品，高能X射线照射样品表面后，原子内层电子跃迁释放特征X射线。能量色散探测器（如硅漂移探测器SDD）将X射线光子转换为电脉冲信号，通过多道分析器（MCA）记录能量与计数。结合标准曲线与智能算法，设备可定性与定量分析元素种类及含量（覆盖Na至U），符合GB/T 17359-2012标准要求。

应用范围

该产品适用于冶金行业检测金属合金（如钢、铝、铜）的成分及杂质；地质领域分析矿石品位与土壤重金属（如Pb、Cd、As）；环保行业监测大气颗粒物、水体沉积物的污染元素；建材行业控制水泥、陶瓷的原料成分。其高精度与快速检测能力支持研发阶段的材料筛选与生产线的在线质控，是质检机构、高校及工业企业的关键分析工具。

产品技术参数

元素检测范围：Na（11）～U（92）

检测限：0.1～50ppm（视元素而定）

分析时间：30～300秒（可调）

样品形态：固体、粉末、液体（需适配样品杯）

探测器类型：硅漂移探测器（SDD，分辨率≤125eV）

X射线管：铑靶（Rh）或银靶（Ag），功率≤50W

数据输出：定性谱图、定量浓度、统计报告

接口：USB 3.0、以太网、VGA

电源：AC 220V±10%，50Hz，功率≤800W

工作环境：5～40℃，湿度≤85%RH

外形尺寸：650×550×1500mm（立式）

产品特点

高灵敏度与低检测限：SDD探测器实现轻元素（如Na、Mg）与痕量元素（0.1ppm级）的精准检测，适合复杂基体样品分析。

多元素快速筛查：一次扫描可检测30余种元素，30秒内完成从Na到U的定性定量分析。

智能软件与数据库：内置合金牌号、矿石类型标准曲线库，支持自动匹配与Rietveld精修，兼容第三方软件（如AQC、JADE）。

操作简便与安全：触控屏操作，封闭式X射线设计，符合GB 16797-2019辐射安全标准，保障人员安全。

合规性保障：符合GB/T 17359-2012《微束分析 能谱法定量分析》及ISO 15632-2012标准，测量数据可直接用于产品质量认证与科研论文发表。