半自动2.5次元测量仪
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半自动2.5次元测量仪
来源:苏州恒商工业设备有限公司
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简介: 苏州恒商工业设备有限公司推出的半自动2.5次元测量仪UMI3020-Z,凭借其高精度、多功能性与经济性,成为中小型制造企业实现二维与轻度三维检测的理想选择,广泛应用于精密零部件的质量控制环节。
产品详细

 恒商


工作原理

UMI3020-Z采用光学影像与接触式测量融合技术。其核心通过0.7-4.5X连续变倍镜头将工件影像投射至高分辨率CCD摄像头,捕捉平面轮廓特征;同时配备高精度Z轴测头,支持手动控制接触工件表面,采集高度方向数据。设备搭载精密金属光栅尺(分辨率0.0005mm),实时反馈X/Y/Z三轴位移,软件结合影像边缘检测算法与测头坐标数据,实现二维尺寸与三维形位公差(如平面度、台阶高)的同步分析,测量精度达(2.8+L/250)μm(L为测量长度,单位mm)。



应用范围

该设备覆盖电子、五金、塑胶、医疗器械等行业,可检测PCB板、手机按键、齿轮齿形、O型密封圈等工件的平面与高度特征。典型场景包括:SMT贴片元件共面性验证、连接器引脚高度差测量、模具型腔深度检测及精密冲压件轮廓分析。其支持点、线、圆、弧等20余种几何元素测量,兼容阵列测量与SPC统计分析功能,满足生产线批量质检与研发阶段逆向工程需求。



技术参数


行程范围:300×200×150mm

测量精度:XY轴≤(2.8+L/250)μm,Z轴≤(3.5+L/180)μm

变倍镜头:0.7-4.5X光学变倍,影像放大倍率30-225倍

光栅尺:进口高精密金属光栅,分辨率0.0005mm

光源系统:轮廓光、表面光双LED可调光源,支持同轴光选配

软件功能:手动/自动边缘抓取、Z轴高度测量、CAD比对、SPC统计输出


产品特点


高性价比复合检测:半自动操作模式降低设备成本,同时支持平面影像测量与Z轴高度检测,满足多样化检测需求。

灵活手动控制:Z轴测头采用手动滑轨设计,操作人员可精准控制下压力度,避免损伤软质或微小工件(如橡胶密封圈、薄膜开关)。

稳定耐用结构:00级大理石底座与P级直线导轨确保长期使用不变形,维护周期延长至1年,降低企业运维成本。

智能软件辅助:内置超50种行业测量模板,支持一键调用与自定义编辑,单件检测时间缩短至12秒内,效率提升40%。

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标签:半自动2.5次元测量仪,物理检测设备
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