工作原理

CromaPlus采用动态桥式结构，搭载高精度光栅尺与伺服驱动系统，通过X/Y/Z三轴联动实现测头空间定位。设备支持两种测量模式：激光扫描测头通过发射结构光并捕捉反射信号，生成密集点云数据以还原工件表面轮廓；触发式测头则通过接触采样获取关键几何特征。测量软件对多源数据进行融合处理，最终输出包含尺寸、形位公差及表面缺陷的检测报告。

应用范围

该设备广泛适用于汽车冲压件、航空叶片、塑料模具、电子外壳等复杂工件的精密检测，尤其擅长处理自由曲面、薄壁件及微小特征部件。典型应用场景包括：车身覆盖件匹配检测、涡轮叶片气动轮廓分析、手机中框平面度验证等。

产品技术参数

测量范围：X/Y/Z轴标准行程800×1000×600mm（支持定制扩展）

测量精度：MPEe≤2.8+L/300μm（符合ISO 10360标准）

测头系统：集成SP25扫描测头与TP200触发测头，支持激光线扫描与点触发

扫描速度：激光模式最高100,000点/秒，触发模式最高500点/秒

软件系统：兼容PC-DMIS/GOM Inspect Pro，支持CAD导入与逆向工程

产品特点

多模态检测：融合激光扫描与接触触发功能，兼顾效率与精度，适应不同检测需求。

动态性能优异：桥式结构搭配高速伺服驱动，可实现复杂路径的连续扫描，减少检测耗时。

智能数据处理：内置点云去噪、曲面重构算法，自动生成STL模型与检测报告。

材料适应性广：支持金属、塑料、陶瓷等多种材质，尤其擅长处理高光反射或低对比度表面。