工作原理

XL80基于激光干涉测量原理，采用氦氖激光器（波长633nm）发射稳定光束，通过分光镜将光束分为参考光与测量光。测量光经被测对象（如机床导轨、CMM轴）反射后，与参考光在传感器处产生干涉。设备通过检测干涉条纹的变化量，结合光波波长与相位差，自动计算并显示位移（如位置误差、重复定位精度）、角度（如俯仰、偏摆）或直线度参数，支持实时数据采集与动态分析。

应用范围

该设备适用于数控机床、三坐标测量机、激光切割机、3D打印机等精密设备的几何精度检测与校准，尤其擅长对直线轴、旋转轴的定位精度、重复性及反向间隙进行量化评估，广泛服务于航空航天、汽车制造、模具加工及科研院校的计量实验室。

产品技术参数

测量范围：位移0~50m（可选配更长测程），角度±0.1°

分辨率：1nm（位移），0.1μrad（角度）

精度：±0.5ppm（位移），±1%（角度）

激光波长：633nm（氦氖激光器）

环境补偿：内置温度（±0.1℃）、气压（±1hPa）传感器

数据输出：USB/RS232接口，支持Renishaw专用软件

电源：AC100~240V，50/60Hz

防护等级：IP40（实验室环境）

产品特点

纳米级测量精度：位移分辨率达1nm，角度分辨率0.1μrad，满足ISO 230-2、ASME B5.54等国际标准要求。

多参数同步检测：支持位移、角度、直线度、垂直度等多维度测量，适配复杂设备校准需求。

环境自适应补偿：集成温压传感器，自动修正环境因素对测量的影响，保障数据稳定性。

便携与易用性：模块化设计，重量≤15kg，支持快速安装与自动对齐功能，降低操作门槛。

智能数据分析：配套专用软件支持数据可视化、报告生成及误差趋势分析，提升计量效率。