高通量高速扫描体电子显微镜
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高通量高速扫描体电子显微镜
来源:思耐达精密仪器(上海)有限公司
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简介: 国仪量子HEM6000是一款革命性的高通量高速扫描体电子显微镜,专为三维快速成像与大范围材料分析设计,集成电子束扫描、多层CT成像与AI算法,可实现微米级分辨率的三维结构重构,广泛应用于半导体、材料科学、生物医学及工业检测领域,是前沿研究与量产质量控制的核心工具。
产品详细

国仪量子


工作原理

设备基于体电子显微成像技术:电子束在样品表面快速扫描,穿透样品的电子信号(如透射电子TE、散射电子SE)被多层探测器阵列捕获,生成多角度投影数据。结合AI加速的三维重构算法,将二维投影转换为高精度三维模型,实现样品内部结构的无损可视化,分辨率可达50nm,单次扫描耗时≤10分钟。



应用范围

适用于半导体行业(芯片内部互联缺陷检测、封装结构验证)、材料科学(复合材料孔隙率分析、金属疲劳裂纹三维定位)、生物医学(细胞/组织微观结构解析)及新能源(电池电极材料孔隙分布表征)。尤其适合需要满足ASTM E192、ISO 1463等标准的场景,助力工艺优化与失效分析。



产品技术参数


电子源:热场发射枪(Schottky型),束流稳定性≤0.2%/h

三维分辨率:50nm(体素尺寸),最大成像范围10×10×5mm³

加速电压:5~30 kV(连续可调)

扫描速度:≥500帧/秒(单帧512×512像素)

探测器:多层透射/散射电子探测器阵列(支持同时采集)

样品台:五轴自动样品台(X/Y/Z/旋转/倾斜,移动范围≥50mm)

真空系统:高真空≤1×10⁻⁴ Pa,适配导电/非导电样品

尺寸/重量:主机2000×1500×1800mm / 2500kg(含控制柜)


产品特点


高通量与高速成像:单次扫描10分钟内完成毫米级样品的三维重构,速度较传统CT提升10倍;多层探测器阵列支持并行信号采集,适配半导体产线在线检测需求。

微米级三维分辨率:50nm体素尺寸可清晰解析芯片内部导线断裂、材料内部孔隙结构;支持多能区成像(不同电压下表征不同深度结构),提升分析维度。

智能化与自动化:内置AI算法实现自动对焦、投影校正与三维重构,新手经培训可快速掌握;支持批量样品自动加载与数据分析,适配工业4.0智能工厂需求。

耐用与低维护设计:Schottky发射枪寿命≥5000小时,真空系统采用无油涡轮分子泵,降低维护频率;防振动结构适应车间环境,确保长期运行稳定性。

合规与扩展性:符合CE、RoHS及中国计量认证(CMA)要求,检测报告具备法律效力;支持与FIB(聚焦离子束)系统联用,实现“成像-加工-再成像”闭环分析。

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标签:高通量高速扫描体电子显微镜,物理检测设备
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