X荧光金属厚度测量仪
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X荧光金属厚度测量仪
来源:惠州市华高仪器设备有限公司
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简介: 华唯X荧光金属厚度测量仪UX-700是一款基于X射线荧光(XRF)技术的无损检测设备,专为金属表面涂层、镀层厚度精准测量设计,适用于电镀、冶金、五金制造、电子元件等领域,可快速、非破坏性地检测镀锌、镀镍、镀铬等涂层厚度,是质量控制与工艺优化的核心工具。
产品详细

 华唯


工作原理

UX-700采用X射线荧光光谱技术,通过X射线管发射高能X射线照射金属样品,激发涂层中的元素原子产生特征X荧光。探测器捕获这些荧光并分析其能量与强度,结合标准曲线与算法,计算出涂层的厚度。设备内置精密光路系统与信号处理模块,确保测量结果的准确性与稳定性。



应用范围

广泛应用于电镀行业(镀层厚度监控与工艺调整)、冶金领域(金属板材防腐涂层检测)、五金制造(螺丝、冲压件表面处理质量控制)、电子元件(PCB金手指镀层厚度验证)及汽车制造(零部件防腐涂层合规性检测)。尤其适合在线检测、来料检验与出厂质量控制场景。



产品技术参数


测量范围:0-50μm(可扩展至100μm)

精度:±0.5μm(常规镀层)

重复性:±0.3μm(同一位置多次测量)

测量时间:≤30秒/点(含自动校准)

样品要求:平面或小曲率曲面(适配专用夹具)

电源:AC220V 50Hz(功耗≤300W)

尺寸/重量:450×350×280mm / 25kg(台式设计)

符合标准:ASTM B568、GB/T 17359等国内外规范


产品特点


无损快速检测:无需破坏样品,30秒内完成单点测量,支持多点扫描与平均值计算,提升检测效率。

高精度与稳定性:采用进口硅漂移探测器(SDD)与高分辨率X射线管,确保微米级精度,长期使用稳定性优异。

多元素分析能力:可同时检测Ni、Cr、Zn、Cu等多种金属元素,适配复杂镀层(如-铬复合镀层)的厚度测量。

智能操作与数据管理:7英寸触控屏集成专业XRF分析软件,支持自动校准、曲线建立与报告生成;内置USB/RS232接口,可导出Excel格式数据,符合ISO 17025实验室规范。

耐用与易维护:全金属外壳,防尘防震设计;模块化探测器与X射线管可快速更换,降低维护成本。

安全环保:内置屏蔽层与辐射安全联锁装置,确保操作人员安全;符合欧盟CE认证与国内辐射防护标准。

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标签:X荧光金属厚度测量仪,物理检测设备
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