工作原理：

72DL PLUS基于高频超声波脉冲反射原理，设备发射窄脉冲超声波（频率范围10MHz-100MHz可调），超声波穿透材料后，在底面或界面产生反射回波。内置的高灵敏度接收器捕获回波信号，并通过数字信号处理算法计算超声波在材料中的传播时间。结合已知的声速参数，系统自动换算出材料厚度，测量精度达±0.001mm。针对超薄材料，设备采用特殊设计的窄脉冲探头与优化算法，有效消除多次反射干扰，确保测量结果的稳定性与重复性。

应用范围：

适用于半导体行业晶圆、封装基板的厚度均匀性检测；满足电子制造领域手机玻璃、OLED屏幕、柔性电路板的微米级厚度测量需求；可应用于精密机械行业轴承套圈、薄膜传感器的在线质量控制；同时支持航空航天领域复合材料构件、高温合金薄板的厚度监测，符合ASTM E797、ISO 20340等国际标准要求。

产品技术参数：

频率范围：10MHz-100MHz连续可调；最小可测厚度：0.05mm；测量精度：±0.001mm（标准试块）；分辨率：0.0001mm；显示刷新率：≥50次/秒；数据存储：支持10万组以上测量记录；接口类型：USB 3.0、蓝牙5.0；防护等级：IP65，适应-10℃至50℃工作环境；电池续航：≥12小时（连续测量）。

产品特点：

高频窄脉冲技术突破超薄材料测量极限；一键式自动校准功能简化操作流程；大尺寸高亮度显示屏支持强光环境清晰读数；无线数据传输模块实现实时监控与云端存储；智能统计分析软件提供厚度趋势图与CPK值计算，助力企业构建数字化质量管控体系。