工作原理

S1 TITAN 500S 基于 X 射线荧光光谱技术 工作：

X 射线激发：仪器内置 X 射线管，发射高能 X 射线照射样品表面。

元素激发与荧光发射：样品中的原子受激发后，发射出特征 X 射线荧光（二次 X 射线）。

能量色散检测：高分辨率硅漂移探测器（SDD）捕获荧光信号，并将其转换为电脉冲。

数据处理与分析：电脉冲信号经多道分析器（MCA）处理后，通过内置软件解析为元素种类及含量。

应用范围

S1 TITAN 500S 广泛应用于以下领域：

合金分析（PMI）：快速鉴定金属材料牌号及化学成分，避免因材质混淆导致的生产事故。

贵金属检测：精准分析黄金、白银、铂金等贵金属的纯度及杂质含量。

废料分拣与回收：对废旧金属进行快速分类，提高回收效率与价值评估准确性。

质量控制（QA/QC）：在制造业中监测原材料及成品质量，确保符合国际标准。

环境监测：检测土壤、沉积物中的重金属污染（如 Pb、As、Cd 等）。

地质勘探与矿业：现场分析矿石品位，指导开采与选矿作业。

产品技术参数

参数 规格

检测器类型 高分辨率硅漂移探测器（SDD），带石墨烯窗口

元素范围 镁（Mg）至铀（U）之间的所有元素

检测限 达 ppm 级（具体取决于元素及基体）

分析时间 1-3 秒（快速筛查）至 30 秒（高精度分析）

光源 微型 X 射线管，Rh 靶材

电压/电流 50kV/200μA（可调）

滤光片 多组可切换滤光片，优化轻元素检测

显示与操作 彩色触控液晶屏，支持中英文等多语言界面

数据存储 内置大容量存储器，支持 USB、蓝牙等多种数据传输方式

防护等级 IP64（防尘防水）

工作温度 -20°C 至 +50°C

尺寸与重量 250mm × 280mm × 190mm，约 1.5kg（含电池）

电源 可充电锂电池，连续工作 8 小时以上

产品特点

高精度与快速分析：

石墨烯窗口 SDD 探测器显著提升轻元素（如 Mg、Al、Si）检测灵敏度。

优化光管几何技术（SharpBeam™）减少散射，提高测量精度与稳定性。

便携性与耐用性：

人体工学枪形设计，配备扳机开关，适合长时间操作。

防护等级 IP64，适应潮湿、多尘等恶劣环境。

智能化操作：

彩色触控屏支持手势操作，界面直观易用。

内置智能牌号分级技术（Smart Grade™），自动匹配国际标准牌号库（含 400+ 等级定义）。

多功能扩展性：

可选配集成数码相机及小点准直器，实现精准定位与微区分析。

支持防扎探测器（TDS），保护窗口免受尖锐样品损伤。

数据安全与管理：

数据加密存储，支持自定义报告生成与远程传输。

兼容 Bruker 专业分析软件，实现数据深度挖掘与共享。

行业定制化服务：

提供针对石油化工、航空航天、电力等行业的专用校准曲线与解决方案。