工作原理

ARTUS-10 基于原子发射光谱学原理，通过电弧或火花放电激发样品表面原子至高能态。当原子跃迁回低能态时，释放特定波长的光子形成特征光谱。仪器采用双光室光学系统，将紫外波段元素（如N、P、S、C）与可见光波段元素分离分析，避免交叉干扰。科研级制冷CMOS检测器接收光谱信号后，转换为电信号传输至计算机，通过OEO（Optimal Element-Oriented）技术对每个元素独立优化参数，实现高灵敏度检测。

应用范围

高纯金属检测：检测高纯铅、铝、铜等材料中痕量杂质，检出限低至1ppm，满足半导体、功能镀膜靶材等高端制造需求。

冶金与铸造：快速分析铁基、铝基、铜基等合金成分，支持炉前质量控制与来料检验。

汽车与航空航天：检测发动机零部件、航空材料中的关键元素含量，确保材料性能符合标准。

科研与教育：提供高精度元素分析工具，支持新材料研发与教学实验。

产品技术参数

参数类别 规格

检测器 科研级制冷CMOS，可独立优化每个元素参数，OEO技术提升灵敏度

光学系统 双光室设计，紫外波段与可见光波段独立分析，避免交叉干扰

波长范围 130-700nm，覆盖全谱元素分析需求

分辨率 紫外3600条/mm，可见2400条/mm，确保光谱线清晰分离

检出限 1ppm（部分元素更低），满足痕量分析要求

稳定性 终身无需漂移校正，光室恒温设计，压铸铝合金整体光室，4级消除应力处理

分析时间 ≤10秒/次，显著提升检测效率

氩气消耗 较传统仪器节约2/3，降低运行成本

软件功能 A-Care远程云服务，支持固件升级、设备状态监控与异常自动通报

尺寸与重量 706mm×810mm×513mm，主机重量约100kg

工作条件 温度10-30℃，湿度20%-80%，电源90-260V AC 50/60Hz

产品特点

超高灵敏度与低检出限：

科研级制冷CMOS检测器结合OEO技术，对紫外波段元素（如C、P、S、N）灵敏度更高，检出限低至1ppm，满足高纯金属检测需求。

卓越稳定性与长期可靠性：

终身无需漂移校正，光室恒温设计与压铸铝合金整体光室（4级消除应力处理）确保光谱位置长期稳定，避免环境温度波动影响结果。

高效分析与成本优化：

双光室设计提升分辨率，分析时间≤10秒/次，较传统仪器提速50%以上；氩气消耗节约2/3，降低长期运行成本。

智能软件与远程服务：

A-Care远程云服务支持固件升级、设备状态监控与异常自动通报，减少现场维护需求；软件主界面简洁，图形化显示提升操作效率。

易用性与样品适应性：

强大的ASR（Aberrant Spark Removed）技术移除异常激发火花，降低样品制备要求，即使样品有裂纹也不影响分析结果；支持固体样品直接进样，简化前处理流程。