工作原理

EDX3600H通过高效超薄窗X光管发射高能X射线，激发样品表面元素产生特征X荧光。高分辨率硅漂移探测器（SDD）捕捉荧光信号，经多道分析器转换为能量谱图，结合智能算法与标准数据库，实现从钠（Na）到铀（U）的元素快速识别与含量计算。其能量分辨率达140±5eV，检测限低至1ppm，可精准测定合金中ppm级微量元素（如Al、Si）及主成分含量，重复测量偏差≤0.05%。

应用范围

该设备覆盖多行业核心检测需求：

金属材料分析：测定不锈钢、铜合金、镍合金等金属材料的元素组成及含量，支持合金牌号快速匹配；

环保合规检测：满足RoHS指令（铅、镉、汞等有害物质）、CA65、EN71-3等国际环保标准检测；

贵金属检测：分析黄金、白银、铂金等首饰的纯度及杂质含量；

工业过程控制：监测电镀液成分比例、镀层厚度（0.005μm起）及金属加工件质量。

技术参数

EDX3600H具备以下核心指标：

测量范围：钠（Na）-铀（U），覆盖轻、重元素；

分析时间：60秒至200秒可调；

管压/管流：5KV-50KV管压，50μA-1000μA管流；

样品腔尺寸：Φ320mm×100mm，适配不规则样品；

设备尺寸：660mm×510mm×350mm，重量65Kg。

产品特点

高效精准：采用国际先进水平的超薄窗X光管与SDD探测器，实现快速无损检测；

智能分析：内置多变量非线性回归程序，可独立校正基体效应，减少干扰；

人性化设计：下照式结构适配不规则样品，样品腔配备防滑定位装置，确保检测稳定性；

安全可靠：铅屏蔽设计与温控光管系统保障操作安全，延长设备寿命。