断层扫描无损检测设备
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断层扫描无损检测设备
来源:马尔软件技术开发(上海)有限公司
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简介: 马尔软件技术开发(上海)有限公司推出的METROTOM 800&1500断层扫描无损检测设备,是一款基于工业计算机断层扫描(CT)技术的三维高精度检测系统,专为复杂工业零部件的内部缺陷分析与几何尺寸测量设计,可无损呈现工件内部结构、检测气孔、裂纹、夹杂及装配偏差,符合VDI/VDE 2630、ASTM E1695等国际标准,是高端制造业实现“零缺陷”生产的理想工具。
产品详细

蔡司ZEISS


工作原理:

设备采用微焦点X射线源(METROTOM 800:180kV/15W,METROTOM 1500:225kV/320W)与高分辨率平板探测器(像素尺寸≤50μm),通过360°旋转扫描获取工件多角度投影数据,再利用锥束CT重建算法生成三维体积数据集。


应用范围:

增材制造:检测金属/塑料3D打印件的内部孔隙、未熔合缺陷及支撑结构残留;

精密铸造:分析涡轮叶片、阀体等铸件的缩孔、裂纹及夹杂物分布;

电子封装:检测PCB板焊点空洞、芯片封装裂纹及BGA球完整性;

医疗器械:验证植入物(如牙科种植体、骨科螺钉)的内部结构与尺寸精度;

汽车动力:评估发动机缸体、变速箱齿轮的装配间隙与内部损伤。

其大尺寸检测舱(METROTOM 800:直径300mm×高400mm;METROTOM 1500:直径500mm×高800mm)可适配从微小零件到中型工件的检测需求。


产品技术参数:

X射线源:METROTOM 800:180kV/15W(焦点≤5μm);METROTOM 1500:225kV/320W(焦点≤15μm);

探测器:2048×2048像素,动态范围16bit,灰度级≥65536;

空间分辨率:METROTOM 800:≤4μm,METROTOM 1500:≤12μm;

几何放大倍率:METROTOM 800:1-10倍,METROTOM 1500:1-5倍;

扫描速度:单圈扫描≤30秒(METROTOM 800),≤60秒(METROTOM 1500);

重建精度:体积误差≤(2+L/100)μm(L为测量长度);

软件功能:支持CAD比对、GD&T形位公差分析、孔隙率统计及纤维取向分析;

防护等级:全封闭房,辐射泄漏率≤0.5μSv/h;

设备尺寸:METROTOM 800:1600mm×1200mm×1800mm;METROTOM 1500:2200mm×1800mm×2500mm。


产品特点:

高精度三维成像:亚微米级分辨率与低噪声设计,清晰呈现内部微结构;

全尺寸检测能力:大检测舱适配多规格工件,减少样件切割需求;

智能化分析软件:一键生成缺陷分布图、尺寸偏差报告及工艺优化建议;

高效能辐射防护:符合国际安全标准,保障操作人员健康;

模块化扩展设计:支持多能谱扫描、动态CT及在线检测接口升级。

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标签:断层扫描无损检测设备,无损检测设备
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