工作原理：

基于X射线荧光光谱技术（XRF）。当X射线管激发待测样品表面时，镀层元素吸收能量后释放特征荧光X射线，其强度与元素含量及镀层厚度呈正相关。通过SDD探测器采集荧光信号，结合多变量非线性去卷积曲线拟合算法，仪器可实现多层镀层厚度与成分的同步分析，精度达0.001μm，能量分辨率125±5eV。

应用范围：

广泛应用于电子制造、汽车零部件、五金加工及贵金属检测领域。

产品技术参数：

iEDX系列配备50kV/1mA微焦X射线管，支持钼、钨、铑靶自动切换，焦斑尺寸可调至75μm。XYZ三维移动平台荷载20kg，移动范围覆盖192×250mm，满足大尺寸样品检测需求。标配6个准直器及多个滤光片，可针对不同镀层材料优化激发条件。分析软件支持中、英、韩多语言界面，集成无标样分析模式，测试时间10-60秒，数据可导出为PDF/Excel格式。

产品特点：

多镀层分析能力：单次测量可解析1-5层镀层结构，兼容金属-金属、金属-合金复合镀层；

合金成分同步检测：元素分析范围覆盖Al至U，可定量分析镀层中镍、钯、金等贵金属含量；

高精度三维定位：高清CCD摄像头实时监控测试点位，确保重复测量误差＜0.5%；

工业级稳定性：全封闭非真空样品腔设计，适应-10℃至50℃环境，MTBF＞5000小时。