工作原理：

通过微焦斑X射线管（W靶）发射高能X射线，激发样品表面原子产生特征荧光X射线，SDD探测器接收信号后，结合FP（基本参数法）与MLSQ（多变量最小二乘法）算法，快速解析镀层厚度与元素含量。

应用范围：

该仪器广泛应用于电子、汽车、环保及贵金属检测领域。

产品技术参数：

厚度量程：0.001-30μm，精度±0.001μm；

元素分析范围：Mg（镁）至U（铀），支持20种元素同步检测；

测量时间：30-60秒；

探测器：Fast SDD探测器，分辨率125±5eV；

准直器配置：标配6个准直器（孔径0.1-4mm），支持滤光片自动切换；

平台移动范围：XY轴192×250mm，Z轴自动对焦；

软件功能：支持中、英、韩文界面，无标样分析，自动生成PDF/EXCEL报告。

产品特点：

高精度与稳定性：采用75μm焦斑尺寸的微焦点X射线管，结合激光定位与高清CCD摄像头，确保测量重复性；

智能化操作：一键式自动测量与多点连续分析，提升检测效率；

安全防护：配备辐射安全电子管屏蔽与门开闭传感器，通过国家辐射豁免认证；

多功能扩展：可选配RoHS检测模块，实现镀层厚度与成分分析一体化。