镀层测厚仪
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镀层测厚仪
来源:深圳市善时仪器有限公司
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简介: 深圳市善时仪器有限公司推出的iEDX-150WT镀层测厚仪,是一款基于X射线荧光光谱(XRF)技术的高精度非接触式测量设备,专为金属电镀层、合金镀层及PCB镀层厚度检测设计。其核心工作原理通过微焦点X射线管(50kV/1mA,钼、钨、铑靶)发射高能X射线,穿透镀层后被SDD探测器(能量分辨率125±5eV)接收。镀层厚度与元素含量通过特征荧光强度计算得出,结合FP(基本参数法)与MLSQ(多变量最小二乘法)分析算法,可同时解析1-5层镀层结构及合金成分比例。
产品详细

 SENSE


工作原理:

通过微焦点X射线管(50kV/1mA,钼、钨、铑靶)发射高能X射线,穿透镀层后被SDD探测器(能量分辨率125±5eV)接收。


应用范围:

该仪器广泛应用于电子、汽车、化工及环保领域。


产品技术参数:

厚度量程:0.001-30μm,精度±0.001μm;

元素分析范围:Al()至U(铀),支持20种元素同步检测;

测量时间:10-30秒;

准直器配置:标配6个准直器(孔径0.1-4mm),支持滤光片自动切换;

平台移动范围:XYZ三维平台,XY轴移动范围192×250mm,荷载5kg;

软件功能:支持中、英、韩文界面,无标样分析,自动生成PDF/EXCEL报告。


产品特点:

高精度与稳定性:采用75μm焦斑尺寸的微焦点X射线管,结合激光定位与高清CCD摄像头,确保测量重复性;

智能化操作:一键式自动测量与多点连续分析,提升检测效率;

安全防护:配备辐射安全电子管屏蔽与门开闭传感器,通过国家辐射豁免认证;

多功能扩展:可选配RoHS检测模块,实现镀层厚度与成分分析一体化。

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标签:镀层测厚仪,测厚仪
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