高分辨率平板探测器
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高分辨率平板探测器
来源:上海玖横仪器有限公司
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简介: F2923-NDT 为二维 CMOSX射线平板探测器,具有高分辨率、 低噪声、大面阵、高帧率和宽动态范围等特点。综合应用派登斯的 CMOS 图像传感器设计技术及 ADC 集成一体化方案,产品结构紧凑,技术性能优良。基于其可靠性高、 易于集成等特点,可有效降低在苛刻环境中、重负荷应用下 对成像系统的校准和维护要求。
产品详细

高分辨率平板探测器 x射线 CMOS成像板

高分辨率平板探测器 x射线 CMOS成像板


F2923-NDT 为二维 CMOSX射线平板探测器,具有高分辨率、 低噪声、大面阵、高帧率和宽动态范围等特点。综合应用派登斯的 CMOS 图像传感器设计技术及 ADC 集成一体化方案,产品结构紧凑,技术性能优良。基于其可靠性高、 易于集成等特点,可有效降低在苛刻环境中、重负荷应用下 对成像系统的校准和维护要求。

CMOS平板探测器有三款可以选择:F1512-NDT,F2923-NDT,F3035-NDT

产品特点

精细像素

图像延迟小

ADC 集成一体化结构

快速的模式切换

极低噪声

稳定的数据偏移校正

极宽动态范围

低功耗

高帧率

快速的网络数据接口

抗辐照

产品应用

无损检测

高等院校

材料科学

航空航天

研究院所

高分辨率平板探测器 x射线 CMOS成像板

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标签:高分辨率平板探测器,检测设备,无损检测
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