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简介： 蔡司双束电镜CROSSBEAM系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。CROSSBEAM系列将场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)出色的加工能力相结合。无论是加工、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用效率。

1，生命科学，如断层扫描，三维重构
2，电池领域，如原子层组分表征
3，半导体领域，如失效分析，电路修复
4，金属领域，如界面分析，亚表面分析
5，材料科学，如晶体微观结构分析，纳米图形化加工
6，透射电镜、EBSD、微观力学等多种样品的原位制备
7，微纳加工

电子束流5pA100nA
分辨率3nm@30KV
检测器lens Se、 Inlens esB、可变气压二次电子探测器VPSE、二次电子二次离子探测器SESI、扫描透射电子探测器STEM、背散射探测器BSD

蔡司双束电镜CROSSBEAM系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。CROSSBEAM系列将场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)出色的加工能力相结合。无论是加工、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用效率。