简介:
日立场发射扫描电子显微镜SU8020采用日立技术公司全新开发的冷场电子枪,实现超高分辨率下观察的同时,稳定的束流亦可满足长时间下的分析需求。是利用二次电子和背散射电子信号,通过真空系统、电子束系统和成像系统获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等的一种分析仪器。
日立场发射扫描电子显微镜SU8020采用日立技术公司全新开发的冷场电子枪,实现超高分辨率下观察的同时,稳定的束流亦可满足长时间下的分析需求。是利用二次电子和背散射电子信号,通过真空系统、电子束系统和成像系统获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等的一种分析仪器。