工作原理

PJ-A3000系列采用双远心平行光路设计：高亮度LED光源（波长470nm±5nm）发射的光线经准直镜组转化为平行光束，穿透被测工件后，由超高分辨率CMOS传感器（1200万像素，像素尺寸1.1μm）捕获1:1无畸变图像；系统内置超景深合成算法（景深扩展至5mm），通过多焦点图像叠加技术消除微小工件表面凹凸不平导致的成像模糊；亚像素边缘提取算法（精度0.00005mm）结合自动对焦模块（分辨率0.1μm），可精准识别0.01mm级微细结构（如芯片引脚宽度、光纤端面直径）；测量数据通过千兆以太网实时传输至PC端软件，支持几何元素（点、线、圆、弧）拟合、形位公差（直线度、圆度、同轴度）分析及CAD图纸比对，测量结果可导出为DXF/IGES格式，兼容主流三维建模软件。

应用范围

覆盖多行业微小工件检测场景：电子制造（SMT贴片元件尺寸、PCB微孔直径）、半导体封装（芯片键合线弧高、BGA焊球间距）、精密机械（钟表齿轮齿形、医疗器械微针直径）及光学通信（光纤连接器端面角度、激光晶体晶向）等，尤其适合测量透明/反光材料（如玻璃、陶瓷）、易变形材料（如塑料薄膜）或复杂曲面（如手机摄像头模组镜片）；支持与显微镜联用扩展至纳米级测量，适配实验室级高精度检测需求；可选配自动化上下料模块，实现微小工件批量检测，单件测量时间＜1.5秒。

技术参数

测量范围：30mm×20mm（可扩展至60mm×40mm）；分辨率：0.0001mm；重复性：±0.00008mm；物镜放大倍率：50X/100X/200X（可选）；光源寿命：＞80000小时；载物台行程：X/Y轴25mm×15mm，Z轴10mm；载物台承重：0.5kg；工作温度：15℃~35℃；工作湿度：20%~70%RH（无冷凝）；电源：DC24V±5% 2A；重量：18kg（主机）；防护等级：IP20；兼容软件：AutoCAD、SolidWorks、Metrolog X4。

产品特点

全系列通过日本JIS B7431计量认证，双远心物镜消除测量畸变，边缘检测精度较传统投影仪提升80%；超景深合成技术实现复杂曲面无模糊成像，单次扫描可覆盖0.5mm级高度差；AI图像处理算法自动识别工件类型并匹配最佳测量参数，操作门槛降低60%；模块化设计支持物镜、光源快速更换，适配不同尺寸微小工件检测需求；配备防振动隔离支架，可有效过滤0.5Hz以上低频振动，确保测量数据稳定性。PJ-A3000系列以“实验室级精度、生产线级效率”的特性，成为微小工件光学检测的标杆设备。