简介： 美国Molecular Vista推出的全新一代散射式扫描近场光学显微镜（Vista-SNOM）基于光诱导力显微镜（PiFM）技术，通过检测探针与样品之间的偶极相互作用直接获得样品表面的场强分布，无需远场光学探测器，避免了远场信号干扰。该技术无缝适应紫外到射频范围，简化了传统SNOM的复杂配置。Vista-SNOM不仅在PiFM模式下提供与模拟结果高度吻合的场强测量，还具备s-SNOM模式，使科研人员能够对比分析两种模式下的场强结果，是研究纳米光子学、表面等离激元、二维材料及范德华异质结构等领域的有力工具。