工作原理

EDX4500H通过内置微型X射线管发射高能X射线，激发样品表面原子内层电子跃迁，释放特征X射线荧光。探测器（SDD硅漂移探测器）捕获荧光信号后，由多通道分析器解析能量谱线，结合标准数据库比对，定量计算元素种类及含量。设备支持多基体分析模式，可自动识别铜基、铁基、铝基等材料类型，全程无需制样或化学试剂，实现无损、快速检测。

应用范围

冶金铸造：铜合金（如黄铜、青铜）、铝合金、锌合金等牌号鉴定及成分偏析分析；

废旧金属回收：废铜、废铝、不锈钢等材料的分类与价值评估；

质量控制：金属制品生产过程中的元素含量监控（如Cu、Zn、Fe、Sn、Pb、Ni等）；

科研教学：材料科学实验中的成分分析与合金性能研究。

技术参数

检测元素：Mg-U之间24种元素，覆盖金属材料常规定量需求；

含量范围：1ppm-99.99%（可扩展至100%）；

检测时间：10-120秒可调，支持快速筛查与精准分析模式；

探测器：SDD硅漂移探测器，分辨率≤135eV；

激发源：4W微型X射线管，电压50kV，电流0-100μA；

显示与操作：7英寸彩色触控屏，支持中英文界面及语音导航；

数据管理：10万组存储，支持USB/蓝牙传输及PC端软件分析；

电源与尺寸：锂电池供电（续航8小时），主机尺寸350mm×280mm×120mm，重量5.8kg。

产品特点

无损快速检测：无需制样，30秒内完成铜合金主成分分析，误差≤0.5%；

高精度与稳定性：SDD探测器结合智能温度补偿，长期运行误差≤1%；

便携设计：主机重量5.8kg，内置高容量锂电池，适应车间、野外等多场景；

智能软件：支持自动材质识别、多基体切换及合金牌号库匹配，操作门槛低；

安全防护：配备双轴承机械快门、三重辐射防护，通过CE安全认证；

售后服务：提供终身免费软件升级、1年质保及上门安装培训服务。