工作原理：

该仪器采用三模态复合检测技术：

磁感应原理：基于电磁感应定律，通过探头与铁磁性基材（如钢、铁）间的磁阻变化，测量非磁性涂层（如漆、氧化层）厚度，分辨率达0.1μm；

涡流原理：利用高频电磁场在导电基材（如铜、铝）表面产生的涡流效应，测量非导电涂层（如塑料、橡胶）厚度，支持0.5μm级精度；

X射线荧光技术：通过微聚焦X射线管激发涂层元素特征X射线，结合EFP算法解析多层镀层厚度及成分，最小检测面积0.003mm²，可穿透复杂结构实现三维建模。

应用范围：

产品覆盖半导体、航空航天、精密电子及新能源领域。

产品技术参数：

测量范围：0.005-100μm（X射线模式），0.1-2000μm（磁感应/涡流模式）；

精度：±(0.5%读值+0.01μm)（X射线模式），±(1%读值+0.1μm)（磁感应/涡流模式）；

分辨率：0.001μm（X射线模式），0.1μm（磁感应/涡流模式）；

探测器：硅漂移探测器（SDD），能量分辨率140eV；

数据接口：USB 3.0/以太网，支持实时数据传输与远程校准；

防护等级：IP65，适应-10℃至50℃工业环境。

产品特点：

纳米级精度：三模态复合技术覆盖0.005-2000μm全量程，满足从超薄镀层到厚涂层的检测需求；

智能化分析：内置多层镀层解析算法，可区分同元素不同层结构（如铜/镍/金多层镀层）；

便携设计：主机重量2.3kg，支持手持与台式双模式，适应实验室与生产线快速切换；

防尘防腐蚀：采用军用级密封结构，通过盐雾试验与粉尘测试，确保复杂工况稳定性。