简介： 本发明公开了一种通过故障隔离技术提高内存可靠性的方法，所述方法通过测试程序，在DRAM颗粒在出厂后，将使用过程中即将变坏的Cell地址信息动态地加入到“失效地址列表”中,让内存控制器不去访问这一块的地址空间，从而延长内存系统的使用寿命。本发明方法可达到提高内存系统可靠性的目的，降低由于内存故障引起系统宕机的风险，减少因为内存原因引起的故障，提高产品竞争力，经济效益明显。