简介： 本发明公开了一种多维应力耦合的星上电子产品加速寿命试验方法，该方法充分考虑电子产品的多维加速应力类型，产品的故障模式和失效机理，选择传统的单维加速寿命试验模型，通过多维耦合应力处理方法，构建多维应力加速寿命试验模型，开展加速寿命试验方案设计，具有很强的工程实用性，使得以往的加速寿命试验工作在一定的工程研制条件下，例如多维应力耦合量化关系不明确，试验条件无法考虑多应力的耦合关系，从而可以大大提高卫星电子产品加速试验的真实性和准确性；应用本发明的方法可以有效节省卫星电子产品加速寿命试验时间和成本，大大提高寿命预测的准确度，具有较大的经济效益。