简介： 本发明是揭露一种用以修复存储器的方法与装置,会从一测试机所传送的一修复指令,是致使一正在进行测试的集成电路将此集成电路中的一第一组存储单元的失效位置,由此集成电路中的一第二组存储单元所取代,而此修复指令是忽略此集成电路的第一组存储单元的失效位置。