封装结构制作方法和芯片防翘曲装置
首页 企业 产品 技术 资讯 图库 视频 需求 会议 活动 产业
封装结构制作方法和芯片防翘曲装置
来源:北方有色网
访问:927
简介: 本发明揭示了一种封装结构制作方法和芯片防翘曲装置,所述制作方法包括步骤:提供一测试基板和测试堆叠芯片组,形成测试封装结构;将测试封装结构进行回流焊工艺;测试回流焊工艺后测试封装结构的焊接性能;当所述焊接性能失效时,提供一芯片防翘曲装置和与所述测试封装结构相同的产品封装结构,将产品封装结构固定装载于所述芯片防翘曲装置内,再进行回流焊工艺。能够很有效防止抑制下部芯片在回流焊工艺过程中产生较大程度的翘曲,减小上部芯片和下部芯片之间的焊接失效的风险,改善3D封装焊接质量。
本发明揭示了一种封装结构制作方法和芯片防翘曲装置,所述制作方法包括步骤:提供一测试基板和测试堆叠芯片组,形成测试封装结构;将测试封装结构进行回流焊工艺;测试回流焊工艺后测试封装结构的焊接性能;当所述焊接性能失效时,提供一芯片防翘曲装置和与所述测试封装结构相同的产品封装结构,将产品封装结构固定装载于所述芯片防翘曲装置内,再进行回流焊工艺。能够很有效防止抑制下部芯片在回流焊工艺过程中产生较大程度的翘曲,减小上部芯片和下部芯片之间的焊接失效的风险,改善3D封装焊接质量。
0
0
0
0
0
         
标签:失效分析
广州铭谦选矿设备有限公司宣传
广州铭谦选矿设备有限公司宣传
相关技术
评论(0条)
200/200
牛津仪器科技(上海)有限公司宣传
发布
技术

顶部
北方有色网-互联网服务平台-关于我们
Copyright 2025 China-mcc.com All Rights Reserved
备案号:京ICP备11044340号-3
电信业务经营许可证编号:京B2-20242293
京公网安备 11010702002294号