简介： 本发明公开了读取非易失性存储器电流的方法及获取电流分布状态的方法，读取非易失性存储器电流的方法为被测的非易失性存储器中的每个存储单元均处于测试状态，该方法为同时测量所有存储单元的电流，所述存储单元为被测器件；其中，每个被测器件的电流测试为：获取所述被测器件中的电流；判断所述被测器件是否处于编程状态，若是，根据所述电流获取所述被测器件失效单元个数；若否则所述被测器件失效单元为零个结束。本发明很大程度上缩短了测试时间，有效地提高了测试效率。