简介:
本申请公开了一种可靠性评估方法及相关设备,涉及电子设备测试技术领域,目的在于提高可靠性评估的准确度。本申请使用目标设备在多个失效高度对应的失效样品数量,进行失效高度分布拟合,得到目标设备的失效高度分布模型,并使用多个用户的使用高度,进行使用高度的分布拟合,得到使用高度分布模型。然后通过目标设备的失效高度分布模型和使用高度分布模型,计算得到目标设备的失效概率。由于目标设备的失效概率是结合了用户的使用场景而计算得到的,计算出的失效概率用于评估跌落场景下的可靠性时,能使得评估结果更为准确。
本申请公开了一种可靠性评估方法及相关设备,涉及电子设备测试技术领域,目的在于提高可靠性评估的准确度。本申请使用目标设备在多个失效高度对应的失效样品数量,进行失效高度分布拟合,得到目标设备的失效高度分布模型,并使用多个用户的使用高度,进行使用高度的分布拟合,得到使用高度分布模型。然后通过目标设备的失效高度分布模型和使用高度分布模型,计算得到目标设备的失效概率。由于目标设备的失效概率是结合了用户的使用场景而计算得到的,计算出的失效概率用于评估跌落场景下的可靠性时,能使得评估结果更为准确。