简介： 本发明公开了一种监控闪存擦写性能的方法,采用缩紧规格的方法进行擦写性能测试,包括如下步骤:(1)在擦写性能测试程序中设立一个较严的规格,使其大于实际使用规格;(2)对每个测试对象记录在步骤(1)设立的规格下擦写1次时失效的擦写次数和重复擦写2次仍失效时的擦写次数;(3)计算每个测试对象在步骤(2)中两个记录的擦写次数的比值,对该比值进行数据处理,用该比值来监控擦写性能。采用本发明方法,在保证擦写性能监控准确性的同时,能缩短擦写性能监控的测试时间。