简介： 本申请涉及一种寿命评估方法及装置；其中，寿命评估方法，包括：获取待测器件在极限工作温度下的第一失效率，以及在预设温度下的第二失效率；对第一失效率与第二失效率进行处理，得到加速因子；获取待测器件在极限工作温度下的第一寿命值；对加速因子与第一寿命值进行处理，得到待测器件在预设温度下的第二寿命值。本申请通过基于第一失效率以及第二失效率得到加速因子，缩短了加速因子的获取时间，并根据加速因子以及在极限工作温度下的寿命值，得到在预设温度下的寿命值，从而实现对待测器件进行寿命评估，避免在试验时，由于试验时间过长导致评估时间过长的问题，缩短了寿命评估时间，实现在较短时间内完成寿命评估。