简介： 一种测试在电子系统中实现的集成电路的方法。所述方法包括使在工作系统(例如,在计算机系统)中实现的集成电路(或其一部分)进入离线状态。设置集成系统的电参数(例如,电压,时钟频率等),并进行内置自测试(BIST)。记录在BIST期间的任何失效。随后对电参数的多个预定值中的每个值重复所述测试,记录发生的任何失效。一旦完成了测试,就确定每个预定值的失效率和合格范围。