简介： 本公开是关于一种备用电路修补位置确定方法及装置、集成电路修补方法，通过确定待修补芯片的失效位置，并根据该失效位置可以初步分派备用电路的初始修补位置，而根据初始修补位置可以确定潜在失效线路，再根据潜在失效线路可以确定预测修补位置，其中该预测修补位置就是上述较多概率出现新的失效位置的位置，再根据失效位置失效位置和预测修补位置可以确定出备用电路的最终修补位置，从而可以将失效位置和可能出现新的失效位置的预测修补位置同时确定为需要修补的修补位置，以在新的失效位置出现之前即对其进行修补，从而可以减小新的失效位置出现的概率，提高芯片的制程良率。