简介： 本申请提供了一种修复存储芯片的方法和装置，涉及计算机领域。该方法包括：获取芯片的自检参数，并根据自检参数对芯片进行修复操作，其中，自检参数包括温度和失效信息，失效信息又包括失效数据单元的地址和失效数据单元的检错信息。通过根据自检参数对芯片进行相应的修复操作，能够更好地发挥修复作用，提高修复效果，从而提高芯片的健壮性。