简介:
本发明公开了保护装置出口矩阵校验仪和校验方法,端口的数量与采样电路的数量相同,且端口和采样电路一一对应;端口通过与该端口对应的采样电路连接于处理器;采样电路包括三极管Q、电阻R1和电阻R2;电阻R1的一端连接于端口,且电阻R1的另一端连接于三极管Q的基极;电阻R2的一端连接于三极管Q的集电极,电阻R2的另一端连接于供电VCC;三极管Q的集电极连接于处理器,且三极管Q的发射极接地;电阻R1的阻值大于或等于10MΩ。本发明保护装置出口矩阵校验仪及校验方法,实现了对同时对多路通道电压信号的采集,并且在采集过程中,不会触发设备绝缘巡检仪,既提高了使用效率又减少了意外触发带来的检测失效。
本发明公开了保护装置出口矩阵校验仪和校验方法,端口的数量与采样电路的数量相同,且端口和采样电路一一对应;端口通过与该端口对应的采样电路连接于处理器;采样电路包括三极管Q、电阻R1和电阻R2;电阻R1的一端连接于端口,且电阻R1的另一端连接于三极管Q的基极;电阻R2的一端连接于三极管Q的集电极,电阻R2的另一端连接于供电VCC;三极管Q的集电极连接于处理器,且三极管Q的发射极接地;电阻R1的阻值大于或等于10MΩ。本发明保护装置出口矩阵校验仪及校验方法,实现了对同时对多路通道电压信号的采集,并且在采集过程中,不会触发设备绝缘巡检仪,既提高了使用效率又减少了意外触发带来的检测失效。