简介： 本发明提供一种芯片的筛选方法，包括：提供一晶圆，所述晶圆包括多个芯片，各个所述芯片包含多个存储单元；向所述芯片的所有所述存储单元写入数据以设置第一测试背景，并在所述第一测试背景下获取所述芯片的第一测试数据；向所述芯片的所有所述存储单元写入数据以设置第二测试背景，并在所述第二测试背景下获取所述芯片的第二测试数据；基于所述第一测试数据及所述第二测试数据，判断所述芯片是否失效。通过本发明解决了现有的无法通过检验存储单元电压VT最小值方法来筛查不合格芯片的问题。