简介： 本发明公开了一种评估抗“氢中毒”能力的装置，包括密闭的腔体、控感元件、取样元件、抽真空元件、加热元件及分析元件，所述腔体具有进气口和出气口，所述控感元件、抽真空元件及加热元件均通过管道连接于所述腔体，所述取样元件连接于所述腔体的出气口，所述分析元件连接于所述取样元件。本发明涉及的评估抗“氢中毒”能力的方法及其装置通过模拟封装结构中的氢气含量，通过控制氢气浓度和气氛温度，实现了对“氢中毒”单一失效机理的加速评价。